最大的改進在于能讓您察覺到細微的差異。 

LS 13 320 XR 粒度分析儀采用先進的 PIDS 技術(shù)，為您提供較好的粒度分布數(shù)據(jù)，讓您能夠進行高分辨率的測量并擴展動態(tài)范圍。如同 LS 13 320，XR 分析儀提供快速、精準的結(jié)果，并幫助您簡化工作流程從而達到最佳效率。一些重大改進可讓您更容易察覺到細微差異，而正是這些細微的差異才會對您的粒度分析數(shù)據(jù)產(chǎn)生重大影響。

LS 13 320 XR 粒度分析儀功能：

發(fā)現(xiàn)細微差異

擴展測量范圍：10 nm – 3,500 µm

激光衍射加上先進的偏振光強度差散射 (PIDS) 技術(shù)可實現(xiàn)高分辨率的測量并可報告最小為 10 nm 顆粒的真實數(shù)據(jù)

可在單個樣品中提供針對多種粒度的準確、可靠的檢測

易于使用的軟件

ADAPT 軟件可自動進行合格/不合格檢查

只需 3 步或更少，預(yù)配置方法即可呈現(xiàn)結(jié)果

簡化專家及新手的分析儀操作流程

一步覆蓋歷史數(shù)據(jù)

直觀的用戶診斷可在取樣過程中時刻對您進行提醒

簡化標準測量的方法創(chuàng)建流程

ADAPT 軟件符合《美國聯(lián)邦法規(guī)》第 21 章第 11 部分的規(guī)定

可自定義的安全系統(tǒng)滿足多元化需求

可選擇 4 種不同的安全級別

高級別的安全配置符合《美國聯(lián)邦法規(guī)》第 21 章第 11 部分的規(guī)定

PIDS 技術(shù)可直接檢測大小為 10 nm 的顆粒

用3 種波長的光（450、600 及 900 nm）通過垂直和水平偏振光照射樣品

分析儀從多角度測量來自樣品的散射光

每種波長的水平及垂直輻射光之間的差異提供了高分辨率的粒度分布數(shù)據(jù)